場地環境之底線和噪音對sem掃描電鏡有這些影響，你知道嗎？

上期我們把場地環境之震動和磁干擾掃描電鏡產生的影響一一進行了詳細說明，這期分享內容為場地環境之底線和噪音對sem掃描電鏡的影響，希望能夠幫助大家更好地理解并有效防范。

①地線的影響

精密的分析儀器基本都要求獨立地線，如果不接地線或者沒有獨立地線都有可能導致電干擾，使得分析結果異常。對于電鏡而言，一般表現為圖像上出現毛刺。

這里有一個判斷干擾類型的小竅門：

電干擾和振動干擾對圖像的影響很相似，通常無法直觀分辨。但可以通過改變工作距離（WD）的方式來進行判斷，如果干擾幅度跟隨工作距離變化而變化，則是振動干擾，如果未發生不變化，則是電干擾。

②噪音的影響

超出儀器允許強度的噪音，無論是低頻或是高頻，聲波（空氣的擾動）都會對電子顯微鏡的電子鏡筒產生擾動，從而改變電子束位置，導致圖像的異常，影響設備使用。因此，如果測試環境附近有任何可能的聲源干擾，均需要使用專門的設備測試噪音。如果噪音超標，則需要通過隔離或者降噪設備來消除噪音。

對于如電子顯微鏡類的高質量精密儀器，場地環境造成的影響尤如“蝴蝶效應”。有學者認為，由于環境影響造成的巨大浪費，“花100萬美元買回來的儀器，只能當10萬美元的用”。

許多儀器的使用者并不知曉，場地環境會對儀器的使用和性能產生這么大的影響。但是電子顯微鏡等精密儀器對于環境的敏感度是人體的成百上千倍，我們看不到、感受不到的事物也許正在影響、改變著我們，我們一定要加以重視。