鎢燈絲sem掃描電鏡對送檢樣品的要求是什么？

鎢燈絲掃描電鏡總發(fā)射電流和束斑都較大，抗干擾能力和穩(wěn)定性都較好，低真空下可以對不導(dǎo)電樣品無荷電成像，可用于形貌觀察、顯微結(jié)構(gòu)分析、斷口形貌分析，在材料、地質(zhì)、礦產(chǎn)、冶金、機(jī)械、化學(xué)、化工、物理、電子、生物、醫(yī)學(xué)、半導(dǎo)體等領(lǐng)域都有廣泛的用途。

鎢燈絲sem掃描電鏡對送檢樣品的要求有：

1、送檢樣品為干燥固體，塊狀、片狀、纖維狀及粉末狀均可。

2、送檢樣品應(yīng)有一定的化學(xué)、物理穩(wěn)定性，在真空中及電子束轟擊下不會揮發(fā)或變形；無磁性、放射性和腐蝕性。

3、含水分較多的生物軟組織的樣品應(yīng)制備成干燥樣品，用戶可以自行完成冷凍干燥或臨界點干燥處理，也可以自行完成臨界點干燥之前的固定、清洗、脫水及用醋酸(異)戊酯置換等處理，*后可以到本室進(jìn)行臨界點干燥處理。

4、需觀察圖像的導(dǎo)電性不佳的樣品干燥后應(yīng)鍍導(dǎo)電膜，該步驟可以到本室進(jìn)行。

5、一般情況下，樣品盡量小塊些(≤ 10 x 10 x 5 mm較方便)。粉末樣品每個需1g左右。納米樣品一般需超聲波分散，并鍍導(dǎo)電膜。